烘箱,精密烘箱用于半導體制造中硅片、砷化鎵、鈮酸鋰、玻璃等材料預處理烘烤;也適用于電子液晶顯示、LCD、CMOS、IS、醫(yī)藥、實驗室等生產(chǎn)及科研部門;也可用于非揮發(fā)性及非易燃易爆物品的干燥、熱處理、老化等其他高溫試驗。
烘箱,精密烘箱簡介:
用于半導體制造中硅片、砷化鎵、鈮酸鋰、玻璃等材料預處理烘烤;也適用于電子液晶顯示、LCD、CMOS、IS、醫(yī)藥、實驗室等生產(chǎn)及科研部門;也可用于非揮發(fā)性及非易燃易爆物品的干燥、熱處理、老化等其他高溫試驗。
烘箱,精密烘箱技術指標:
內(nèi)尺寸:600(W)×900(H)×500(D)mm可自定;
外尺寸:以實物為準;
內(nèi)部材質(zhì)為:鏡面不銹鋼板;
外部材質(zhì)為:鋼板粉體烤漆;
門開啟方式:門由右至左開啟;
通風口孔式:可調(diào);
控制箱:位于機臺上方;
合頁:U型合頁;
門鎖:長鎖式;
保溫:耐高溫硅酸鋁棉;
密封條:耐高溫硅膠條;
觀測窗:無鋼化玻璃窗口;
柵板:內(nèi)分八層,配網(wǎng)板四片;
機臺安裝有帶剎車活動輪腳;
溫度范圍:常溫-300度。
一、高低溫試驗箱,微型高低溫試驗箱特點及用途:
高低溫試驗箱適用于IC,PCB板、晶圓,可控硅,半導體,電阻、電容、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關產(chǎn)品零部件在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗,考核其各項性能指標。可單獨做高溫、低溫;也可用于高溫、低溫的循環(huán)試驗。
《GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件》
《GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件》
《GB/T 2421/2/3/4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》
《GJB 150A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法》
《GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法》
《JJF 1101-2003 環(huán)境試驗設備溫度、濕度校準規(guī)范》
《GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備》
二、高低溫試驗箱,微型高低溫試驗箱主要技術參數(shù):
1、溫度范圍: -75、-40℃~150℃;
2、溫度波動度:≤±0.5℃;
3、溫度均勻度:≤±2℃ ;
4、內(nèi)腔尺寸(W×H×D):300×300×225 (mm);
5、外形尺寸(W×H×D):460×910×785 (mm);
6、電源: 220V 50Hz 1.5KW。
三、結構:
1、箱體采用CNC數(shù)位工作母機成型,造型美觀大方;
2、箱體內(nèi)部采用SUS304鏡面不銹鋼板,外部采用SECC鋼板噴塑處理,以
增加外觀質(zhì)感及潔凈度;
3、大型觀察窗,配有照明燈,保持箱內(nèi)明亮,利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式玻璃,隨時保持清
晰的觀測箱內(nèi)的狀況;
4、機器底部采用高質(zhì)量可固定式活動輪,以便固定及移動之用。
四、高低溫試驗箱,微型高低溫試驗箱控制系統(tǒng):
1、控制系統(tǒng):可編程控制器+觸摸屏;
2、溫度控制:采用P.I.D.+S.S.R.系統(tǒng)同步協(xié)調(diào)控制,可提高控制組件與界面使用之穩(wěn)定性及壽命;
3、程序控制:定點控制、程序控制;
4、遠程控制:具備RS232接口,可以實現(xiàn)遠程網(wǎng)絡控制;
5、數(shù)據(jù)存儲:具備USB接口,全部運行數(shù)據(jù)自動存儲,并可實現(xiàn)自由導出。